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凌云光技術(shù)股份有限公司

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光柵推掃型高光譜儀返回列表頁(yè)

參考價(jià)：面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):VIS

品牌:

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所在地:北京市

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更新時(shí)間：2016-10-28 14:03:13瀏覽次數(shù)：5986次

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產(chǎn)品分類(lèi)品牌

光譜相機(jī): Light Gene 雙利合譜 Inno-spec Imec LightGene Ximea Quest Innovations DB2 Vision

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

高光譜成像光譜儀采用一種全新的成像技術(shù)，通過(guò)推掃或調(diào)諧波長(zhǎng)實(shí)現(xiàn)圖像與光譜的合二為一，改變了傳統(tǒng)光譜儀或相機(jī)獲取數(shù)據(jù)單一的缺點(diǎn)，為用戶提供了一種全新的分析手段。這種技術(shù)可以廣泛應(yīng)用在天文、遙感、農(nóng)業(yè)、考古、生物醫(yī)學(xué)、顏色科學(xué)、材料物理及化學(xué)等多種科研領(lǐng)域，同時(shí)也被廣泛應(yīng)用在制藥生產(chǎn)、食品檢測(cè)、材料分選、LCD、印刷印染等各種工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域。

詳情介紹


高光譜成像光譜儀	光柵分光成像原理圖
特性描述：
可同時(shí)獲取影響及光譜信息；多種波長(zhǎng)范圍及波長(zhǎng)分辨率，供用戶根據(jù)實(shí)際需求彈性選擇；體積簡(jiǎn)介架構(gòu)牢固，適合工業(yè)及科研研究應(yīng)用；采用高衍射效率的體全息相位光柵；低散光低失真高信噪比。

應(yīng)用領(lǐng)域：
遙感、食品工程、農(nóng)產(chǎn)品測(cè)量、科學(xué)考古、教學(xué)科研、生產(chǎn)過(guò)程監(jiān)測(cè)

遙感測(cè)量	地面遙感測(cè)量	顯微成像	礦物分析

性能參數(shù)：

產(chǎn)品	HR-Spectral Camera	HScamera-NIR-1.7	HScamera-SWIR-2.5
成像相機(jī)	CCD	InGaAs	MCT
光譜范圍	VIS：380~800nm VNIR：400~1000nm	NIR：900~1700nm	SWIR：1000~2500nm
像素?cái)?shù)（空間x光譜）	1600 x 1200 / 1920 x 1080	320 x 256	320 x 256
分辨率（可選配）	2.8nm	5nm	10nm
采集速率	30幀	60/100幀	60/100幀
濾光片選項(xiàng)	VIS ： OBF450 VNIR ：OBF570	OBF1000	OBF1000
鏡頭選擇	焦距 : 9/18.5/23/140	焦距 : 9/18.5/23/140 遠(yuǎn)心	焦距 : 9/18.5/23/140 遠(yuǎn)心
接頭接口	Standard C-Mount	Standard C-Mount	Standard C-Mount
數(shù)據(jù)接口	Camera Link	Camera Link	Camera Link
軟件	IOC SIA /ENVI	IOC SIA /ENVI	IOC SIA /ENVI
工作溫度	5 ~ 40 degree C 不結(jié)露	5 ~ 40 degree C 不結(jié)露	5 ~ 40 degree C 不結(jié)露
可選附件/服務(wù)	實(shí)驗(yàn)室測(cè)量附件（暗箱，照明光源，參考白板，反射率測(cè)量/透射率測(cè)量附件）室外測(cè)量附件（三腳架，儀器箱，旋/掃描鏡）波長(zhǎng)校準(zhǔn)服務(wù)（必選）輻射校準(zhǔn)服務(wù)（可選）	實(shí)驗(yàn)室測(cè)量附件（暗箱，照明光源，參考白板，反射率/透射率測(cè)量附件）室外測(cè)量附件（三腳架，儀器箱，旋/掃描鏡）波長(zhǎng)校準(zhǔn)服務(wù)（必選）輻射校準(zhǔn)服務(wù)（可選）	實(shí)驗(yàn)室測(cè)量附件（暗箱，照明光源，參考白板，反射率/透射率測(cè)量附件）室外測(cè)量附件（三腳架，儀器箱，旋/掃描鏡）波長(zhǎng)校準(zhǔn)服務(wù)（必選）輻射校準(zhǔn)服務(wù)（可選）

實(shí)驗(yàn)室測(cè)量系統(tǒng)：
對(duì)于在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的測(cè)量的用戶，我們推薦選擇實(shí)驗(yàn)室測(cè)量系統(tǒng)，系統(tǒng)包括測(cè)量暗箱、固定支架、光源、位移臺(tái)、反射率測(cè)量附件和透射率測(cè)量附件，如下圖：

系統(tǒng)構(gòu)成原理圖	系統(tǒng)構(gòu)成實(shí)物圖